SIGMAKOKI/西格瑪光機光學系統(tǒng)?干涉儀

微小樣品觀測用干涉儀 DTM-MMHI

曲率半徑測定干涉計 DTM-RMFI

可干涉長測定機 DTM-CLMI

定制品（例）Custom-made

光學系統(tǒng)?干涉儀

集成光學干涉系統(tǒng) DTM

微小樣品觀測用干涉儀 DTM-MMHI

可觀測1mm左右的玻璃基板透過波面的馬赫澤德（Mach-Zehnder）干涉儀。
以D-TOP為基礎，從樣品到成像透鏡的距離短，容易實現(xiàn)了放大觀測。
攝像頭的圖像，經(jīng)USB接口和計算機連接，可記錄靜止畫面和動畫。
另外，使用2個偏光板調(diào)節(jié)激光亮度，可避免圖像飽和，容易得到清晰的圖像。

	品　名	型　號	報價訂貨表
①	激光組件	DTM-05-LHP-111	1	CART
②	反射鏡組件	DTM-TFA-30C05-10	3
③	偏光板組件	DTM-SPF-30C-33	2
④	立方體半透半反鏡組件	DTM-HBCH-20-550	1
⑤	平板半透半反鏡組件	DTM-PSMH-30C03-10-550	1
?	微小樣品支架組件	DTM-MLF-SF	1
⑥	成像鏡組件（凸透鏡）	DTM-SLB-30-50PM	1
⑦	C型接口攝像頭組件	DTM-CMH	1
?	D-TOP底板	DOBC-2632	1

曲率半徑測定干涉計 DTM-RMFI

使用干涉儀，可以評估曲率半徑較小的凹面鏡的曲率半徑值。
可以觀測到凹面鏡反射干涉條紋的鏡面位置有2個。
一個是在圖中所示雙膠合透鏡的焦點處，另一個是被測凹面的曲率中心和其焦點重合的位置。
讀取移動此樣品平臺的微分頭的刻度值，便可得到凹面樣品的曲率半徑。

	品　名	型　號	報價訂貨表
①	激光組件	DTM-05-LHP-111	1	CART
?	擴束鏡組件	LBED-10	1
②	反射鏡組件	DTM-TFA-30C05-10	3
③	偏光板組件	DTM-SPF-30C-32	2
⑤	平板半透半反鏡組件	DTM-PSMH-30C03-10-550	1
?	原器組件	DTM-PSM33-30C03-10W-550	1
?	雙膠合透鏡組件	DTM-DLB-15-50PM	1
?	凹面樣品支架組件	TAT-AD20-TSD-40801S	1
?	透鏡組件（凸透鏡）	DTM-SLB-15-100PM	1
⑦	C型接口攝像頭組件	DTM-CMH	1
?	D-TOP底板	DOBC-2632	1

可干涉長測定機 DTM-CLMI

使用了1/4波長板和PBS的偏光邁克耳遜干涉儀，可測試半導體激光器的背景光的可干涉長度。
首先使用He-Ne激光光源，調(diào)整好干涉儀，然后使用平臺把反射鏡移開，入射一束準直的半導體激光束。使用偏光板過濾掉激光成分，僅讓背景光到達攝像頭。一點一點地耐心調(diào)試可動反射鏡找到出現(xiàn)干涉條紋的位置?？梢杂^測到干涉條紋的范圍便是其可干涉長度了。

	品　名	型　號	報價訂貨表
①	激光組件	DTM-05-LHP-111	1	CART
③	偏光板組件	DTM-SPF-30C-32	2
?	反射鏡組件	TFA-30C05-10-TSD-40801S	1
?	1/2波長板組件	DTM-WPQ-6328-2M	1
?	PBS組件	DTM-PBS-20-6328	1
?	1/4波長板組件	DTM-WPQ-6328-4M	2
②	反射鏡組件	DTM-TFA-30C05-10	2
?	可動反射鏡組件	TFA-30C05-10-TSD-401S	1
?	平凹透鏡組件	DTM-SLB-10-30NM	1
⑦	C型接口攝像頭組件	DTM-CMH	1
?	D-TOP底板	DOBC-2632	1

定制品（例）Custom-made

D-TOP主要選用樣本上的規(guī)格產(chǎn)品組建。如果光源，樣品，或檢測器的形狀特殊，使用規(guī)格品無法固定的話，我們還承接定制非標的連接板和鏡架等，此時請告知有關(guān)設備的詳細形狀尺寸。另外，為了實現(xiàn)標準產(chǎn)品的組合裝配，我們還承接現(xiàn)有標準品的改造和定做連接部件。

SIGMAKOKI/西格瑪光機光學系統(tǒng)?干涉儀

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